|
|
עמוד:20
באיור 1 . 13 מוצגת דרך מקובלת לכיול מכשיר בעל תגובה לינארית . הישר A מתאר את התגובה השגויה של המכשיר לפני הכיול . הישר B מתאר את תגובת המכשיר לאחר כיול הקצה התחתון של לוח השנתות . בכיול זה מחברים אל מבוא המכשיר אות נמדד אשר ידוע כי ערכו אפס , ומכוונים את קריאת המכשיר לאפס . הישר C מתאר את התגובה הנכונה של המכשיר , אשר התקבלה לאחר שקריאת המכשיר תוקנה בהתאם לאות נמדד בעל ערך ידוע מראש ( בדיוק רב ) שסופק במבוא המכשיר . כפי שניתן ללמוד מהדוגמה , שגיאת מכשיר מדידה בעל תגובה לינארית מורכבת משגיאה בגודל קבוע ומשגיאה בשיפוע . הזזת הישר A למקומו של הישר B מתקנת את השגיאה הקבועה . סיבוב הישר B סביב הראשית למקומו של הישר C מתקנת את השגיאה בשיפוע . . 3 סח » פה תופעת הסחיפה ( drift ) מגבילה את יציבותם של מכשירי מדידה אלקטרוניים , ונגרמת בעיקר כתוצאה מהתחממותם של רכיבים עקב מעבר זרם בהם . כתוצאה מהשתנות הטמפרטורה של הרכיבים , משתנות גם תכונות חשמליות שלהם — דבר המשפיע על קריאת המכשיר . כדי להקטין את השפעת התופעה , רצוי להפעיל את מכשיר המדידה זמן מה לפני שמבצעים את המדידה , כדי שהמכשיר יספיק להתחמם . במדידות שבהן נדרשת רמת דיוק גבוהה , מקובל להפעיל את מכשיר המדידה באופן רצוף ( בלא לכבותו , ( במטרה לאפשר לרכיבים החשמליים להגיע לטמפרטורה יציבה ואחידה . A רעש הדיוק של כל מכשיר אלקטרוני מושפע מהפרעות פנימיות וחיצוניות המיתוספות לאות המייצג את הגודל הנמדד . לאחר שהפרעות אלה נקלטו או נוצרו במכשיר , לא ניתן להבחין בינן לבין האות הנמדד . הפרעות אלו קרויות רעש ; ( noise ) באופן כללי , מונח זה מציין אות איור : 1 . 13 כיול מכשיר מדידה בעל תגובה לינארית
|
|